在電子封裝技術領域曾經出現過兩次重大的變革。
第一次變革出現在20世紀70年代前半期,其特征是由針腳插入式安裝技術(如DIP)過渡到四邊扁平封裝的表面貼裝技術(如QFP);第二次轉變發(fā)生在20世紀90年代中期,其標志是焊球陣列.BGA
型封裝的出現,與此對應的表面貼裝技術與半導體集成電路技術一起跨人21世紀。隨著技術的發(fā)展,出現了許多新的封裝技術和封裝形式,如芯片直接粘接、灌封式塑料焊球陣列(CD-PBGA)、倒裝片塑料焊球陣列(Fc-PBGA)、芯片尺寸封裝
(CSP)
以及多芯片組件
(MCM)
等,在這些封裝中,有
相當一部分使用了液體環(huán)氧材料封裝技術。灌封,就是將液態(tài)環(huán)氧樹脂復合物
用機械或手工方式灌入裝有電子元件、線路的器件內,在常溫或加熱條件下同
化成為性能優(yōu)異的熱同性高分子絕緣材料。
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產品性能要求
灌封料應滿足如下基本要求:性能好,適用期長,適合大批量自動生產線
作業(yè);黏度小,浸滲性強,可充滿元件和線間;在灌封和固化過程中,填充劑
等粉體組分沉降小,不分層;固化放熱峰低,固化收縮??;同化物電氣性能和
力學性能優(yōu)異,耐熱性好,對多種材料有良好的粘接性,吸水性和線膨脹系數
??;在某些場合還要求灌封料具有難燃、耐候、導熱、耐高低溫交變等性能。
在具體的半導體封裝中,由于材料要與芯片、基板直接接觸,除滿足上述
要求外,還要求產品必須具有與芯片裝片材料相同的純度。在倒裝芯片的灌封
中,由于芯片與基板間的間隙很小,要求灌封料的黏度極低。